发明名称 SISTEMA PARA LA MEDICION DE ABERRACIONES Y TOPOMETRIA.
摘要 Sistema (10) para la medición de aberraciones y de la topografía de un ojo (91) que comprende: un sensor de frente de onda (21); una primera trayectoria óptica (11) que comprende: unos medios (14) para introducir un haz incidente individual (13) de radiación en una retina (92) del ojo; y unos medios (16) para orientar un frente de onda (20) reflejado desde una retina del ojo hacia el sensor; una segunda trayectoria óptica (12) que comprende: unos medios para introducir un haz incidente individual (13) en una superficie corneal (90) del ojo; y unos medios (34, 37) para orientar un frente de onda (26, 28) reflejado desde la superficie corneal hacia el sensor; unos medios para transmitir los datas del frente de onda desde el sensor hasta el procesador (40) para determinar a partir de los mismos las aberraciones del ojo a partir de los datos de frente de onda de la primera trayectoria óptica y una topografía de la superficie corneal a partir de los datos de frente de onda de la segunda trayectoria óptica; unos medios (24) para conmutar el haz incidente individual entre la primera trayectoria óptica y la segunda trayectoria óptica, caracterizado porque el haz incidente individual consiste en un haz incidente individual colimatado, y porque el frente de onda (20) reflejado desde la retina (92) en la primera trayectoria óptica (11) y el frente de onda (26, 28) reflejado desde la superficie corneal (90) en la segunda trayectoria óptica (12) se desplazan a lo largo de una trayectoria común (16) hacia el mismo sensor (21).
申请公布号 ES2304502(T3) 申请公布日期 2008.10.16
申请号 ES20030711096T 申请日期 2003.02.18
申请人 ALCON, INC. 发明人 CURATU, EUGENE
分类号 A61B3/10;A61B3/103;A61B3/107 主分类号 A61B3/10
代理机构 代理人
主权项
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