发明名称 |
Apparatus for testing system-in-package devices |
摘要 |
Apparatus for testing System-In-Package (SIP) devices is described. The apparatus utilizes industry standard JEDEC trays and transports the trays into a tester.
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申请公布号 |
US2008252317(A1) |
申请公布日期 |
2008.10.16 |
申请号 |
US20070786774 |
申请日期 |
2007.04.12 |
申请人 |
SEMICONDUCTOR TESTING ADVANCED RESEARCH LAB INC. |
发明人 |
HOPKINS JAMES E.;COSTELLO MICHAEL PETER;TSAI HERBERT;CHEN CHING-TOO |
分类号 |
G01R31/02 |
主分类号 |
G01R31/02 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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