发明名称 |
利用假模块实现光板测试的方法及其装置 |
摘要 |
本发明公开了一种利用假模块实现光板测试的方法,包括如下步骤:同步数字体系测试仪将业务通过光纤发送至带有光模块的正常光板;配置同步数字体系的交叉板,将经正常光板转换后的业务交叉到带有假的光模块的被测光板上;被测光板上的假的光模块将业务环回,经交叉板传送至正常光板上,经正常光板转换后通过光纤发送回同步数字体系测试仪,实现同步数字体系测试仪对被测光板进行测试。本发明还公开一种利用假模块实现光板测试的装置及其假的光模块。采用本发明能在高速率光板测试过程中确保光模块不受损坏,从而降低生产测试成本。 |
申请公布号 |
CN100426760C |
申请公布日期 |
2008.10.15 |
申请号 |
CN200510056484.2 |
申请日期 |
2005.03.24 |
申请人 |
中兴通讯股份有限公司 |
发明人 |
包松清 |
分类号 |
H04L12/26(2006.01);H04B10/12(2006.01);H04B10/08(2006.01) |
主分类号 |
H04L12/26(2006.01) |
代理机构 |
北京安信方达知识产权代理有限公司 |
代理人 |
霍育栋;王漪 |
主权项 |
1、一种利用假模块实现光板测试的方法,包括如下步骤:(a)同步数字体系测试仪将业务通过光纤发送至带有光模块的正常光板;(b)配置同步数字体系系统上的交叉板,将安装在交叉板上正常光板与被测光板进行收发的电信号交叉连接,从而使经正常光板转换后的业务交叉到带有假的光模块的被测光板上,所述假的光模块是按照300针光模块的多源协议设计的实现业务环回的电路板;(c)被测光板上的假的光模块将业务环回,经交叉板传送至正常光板上,经正常光板转换后通过光纤发送回同步数字体系测试仪,实现同步数字体系测试仪对被测光板的测试。 |
地址 |
518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦A座6层 |