发明名称 THICK PSEUDOMORPHIC NITRIDE EPITAXIAL LAYERS
摘要 Semiconductor structures are fabricated to include strained epitaxial layers exceeding a predicted critical thickness thereof.
申请公布号 WO2008094464(A3) 申请公布日期 2008.10.09
申请号 WO2008US01003 申请日期 2008.01.25
申请人 CRYSTAL IS, INC.;SCHOWALTER, LEO, J.;SMART, JOSEPH, A.;GRANDUSKY, JAMES, R.;LIU, SHIWEN 发明人 SCHOWALTER, LEO, J.;SMART, JOSEPH, A.;GRANDUSKY, JAMES, R.;LIU, SHIWEN
分类号 H01L21/20 主分类号 H01L21/20
代理机构 代理人
主权项
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