发明名称 半导体装置
摘要 本发明之半导体装置包含有:基板;形成于前述基板上,含有多层配线构造之层叠体;于前述层叠体中,包围形成有活性元件之元件区域并连续延伸之防潮环;及在前述层叠体中,于前述防潮环外侧沿前述防潮环连续形成,以使前述基板表面露出之保护沟部。前述层叠体系由具有较SiO#sB!2#eB!膜低之介质常数的层间绝缘膜之层叠构成,且前述层叠体上面及前述保护沟部之侧壁面与底面除了前述多层配线构造上之电极垫外,皆以保护膜连续覆盖,并且于前述保护膜与前述保护沟部侧壁面之间形成以Si及C为主成份之界面膜。
申请公布号 TW200839938 申请公布日期 2008.10.01
申请号 TW096111320 申请日期 2007.03.30
申请人 富士通股份有限公司 发明人 渡边健一;三泽信裕;大塚敏志
分类号 H01L21/76(2006.01) 主分类号 H01L21/76(2006.01)
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 日本