发明名称 半导体封装结构及其制造方法
摘要 本发明系关于一种半导体封装结构及其制造方法,该制造方法包括以下步骤:(a)提供一基板;(b)附着一晶片至该基板之一表面;(c)形成复数个导体于该基板之该表面;(d)覆盖一模具于该等导体上,该模具具有复数个缺口,每一缺口系容置每一该等导体之上端;及(e)形成一封胶材料以包覆该基板之表面、该晶片及部分该等导体,其中该封胶材料之厚度系小于每一该等导体之高度。藉此,该封胶材料系包覆该基板第一表面整个平面,因此不会产生溢胶之问题,而且可提高该基板之刚性。
申请公布号 TW200839970 申请公布日期 2008.10.01
申请号 TW096110034 申请日期 2007.03.23
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 孙余青;郑仁义;万才;徐志宏;陈光雄
分类号 H01L23/28(2006.01);H01L25/00(2006.01);H01L23/48(2006.01) 主分类号 H01L23/28(2006.01)
代理机构 代理人 蔡东贤;林志育
主权项
地址 高雄市楠梓加工区经三路26号