发明名称 | 调整占空比的取样方法 | ||
摘要 | 一种调整占空比的取样方法,用以取样由于一第一开关的切换所形成的一第一待测讯号,包括根据一第一响应延迟时间、一切换周期、一脉宽占空比与预设的一取样时间点,产生一N值,N为大于1的自然数,使在接续的N个切换周期中取样一次,并制定N个脉冲所对应的N个占空比,N个占空比的平均值等于脉宽占空比,设定具有最大占空比所对应的一最宽脉冲为一取样脉冲,第一待测讯号中将有一取样待测脉冲,以第一响应延迟时间的间隔对应于取样脉冲,且在取样脉冲的期间内,选择重设取样时间点,使取样时间点,落在取样待测脉冲的期间内。 | ||
申请公布号 | TW200840192 | 申请公布日期 | 2008.10.01 |
申请号 | TW096110430 | 申请日期 | 2007.03.26 |
申请人 | 台达电子工业股份有限公司 | 发明人 | 应建平;邱爱斌;曾剑鸿;周子颖 |
分类号 | H02M3/137(2006.01) | 主分类号 | H02M3/137(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 蔡清福 | |
主权项 | |||
地址 | 桃园县龟山乡兴邦路31之1号 |