发明名称 半导体晶圆及/或基板加工用黏合片材
摘要 本发明之目的在于提供一种稳定的黏合片材,其与作为被黏附体的半导体晶圆及/或基板等之表面之凹凸无关,藉由良好地追踪黏附面之凹凸而确保充分的黏附力,并且,于照射紫外线及/或放射线后,使黏附力降低至进行拾取等时之最适值,且完全无黏合剂残留。该半导体晶圆及/或基板加工用黏合片材包括对紫外线及/或放射线具有透过性之基材、以及藉由紫外线及/或放射线进行聚合固化反应之黏合剂层,其中,该黏合剂层至少包括增黏剂以及界面活性剂。
申请公布号 TW200839932 申请公布日期 2008.10.01
申请号 TW096139308 申请日期 2007.10.19
申请人 日东电工股份有限公司 发明人 新谷寿朗;山本晃好;浅井文辉;桥本浩一
分类号 H01L21/683(2006.01);C09J7/02(2006.01);C09J133/04(2006.01);H01L21/301(2006.01) 主分类号 H01L21/683(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本