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发明名称
MOS电晶体之制备方法
摘要
一种MOS电晶体之制备方法,其包含形成一闸氧化层于一基板上、形成一闸极及一第一介电层于该闸氧化层上、形成一第二介电层于该基板表面与该闸极侧壁、形成一覆盖该第一介电层及该第二介电层之第三介电层、进行一第一蚀刻制程以局部去除该第三介电层以及进行一第二蚀刻制程以形成一间隙壁该闸极之两侧等步骤,其中该第一蚀刻制程与该第二蚀刻制程对该第三介电层/第二介电层之蚀刻选择比不同,使得该第二介电层在该基板之中心处的厚度小于在该基板之边缘处的厚度。
申请公布号
TW200839891
申请公布日期
2008.10.01
申请号
TW096111203
申请日期
2007.03.30
申请人
茂德科技股份有限公司
发明人
黄怀安
分类号
H01L21/336(2006.01)
主分类号
H01L21/336(2006.01)
代理机构
代理人
王宗梅
主权项
地址
新竹市科学工业园区力行路19号3楼
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