发明名称 | 研磨液 | ||
摘要 | 本发明提供一种研磨液,其是使用了阻挡CMP中应用的固体磨粒的研磨液,阻挡CMP中对由阻挡金属材料构成的阻挡层进行研磨,该研磨液可以对研磨阻挡层时的被研磨膜维持高研磨速度,并且可以充分抑制对于低介电常数的Low-k膜的研磨速度。所述研磨液用于研磨半导体集成电路的阻挡层,其中,含有防静电剂。 | ||
申请公布号 | CN101275065A | 申请公布日期 | 2008.10.01 |
申请号 | CN200810086778.3 | 申请日期 | 2008.03.26 |
申请人 | 富士胶片株式会社 | 发明人 | 上村哲也 |
分类号 | C09K3/14(2006.01);H01L21/321(2006.01);H01L21/768(2006.01) | 主分类号 | C09K3/14(2006.01) |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 朱丹 |
主权项 | 1.一种研磨液,其用于研磨半导体集成电路的阻挡层,其中,含有防静电剂。 | ||
地址 | 日本国东京都 |