发明名称 一种用于真空系统防止晶片颗粒缺陷的方法及其装置
摘要 一种用于真空系统防止晶片颗粒缺陷的方法,包括:采集颗粒,颗粒计数分析,颗粒计数分析结果信息送到气压阀控制器,气压阀控制器选择驱动第一或第二开关阀门,在两个开关阀门之间切换;用于该方法的装置,包括:开关阀组件,其具有第一开关阀门和第二开关阀门,颗粒分析仪,气压阀控制器;由开关阀门产生的颗粒处于实时监测之中,一个阀门工作,而另一个阀门备用,通过颗粒信息的传递和控制,使两个阀门之间进行自动或手动切换,保证机台的连续运转和晶片的合格率。
申请公布号 CN100423186C 申请公布日期 2008.10.01
申请号 CN200510030912.4 申请日期 2005.10.31
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 姚政源;华宇;施敏;王铁渠
分类号 H01L21/00(2006.01);H01L21/67(2006.01);F16K51/02(2006.01) 主分类号 H01L21/00(2006.01)
代理机构 北京市金杜律师事务所 代理人 李勇
主权项 1. 一种用于真空系统防止晶片颗粒缺陷的装置,包括:开关阀组件,用于集群式真空反应设备的相邻腔体之间,所述开关阀组件具有第一开关阀门,所述开关阀组件单方向单独密封反应腔体,在关状态时隔绝两个不同的相邻腔体,使它们分别在不同压力下,能同时各自进行不同的工艺,在开状态时成为传输晶片进出腔体的通道;气压阀控制器,用于开关阀门开/关状态的控制;其特征在于,还包括:颗粒采样通道,其一端在开关阀门的下端设置有采样点,另一端与颗粒分析仪连接;颗粒分析仪,设置在开关阀组件的远程,一方面与颗粒采样通道相连,另一方面与气压阀控制器相连;所述的开关阀组件,还包括第二开关阀门,其与第一开关阀门构成双开关阀门形式,第一开关阀门和第二开关阀门上下颠倒设置,互为备用。
地址 201203上海市浦东新区张江路18号