发明名称 Super I/O测试方法
摘要 一种Super I/O测试方法,通过一设置在主板上的Super I/O芯片测试计算机硬件温度、电压及风扇转速等,相对现有技术,本发明不但包括了现有测试方法的读取I/O寄存器内容,还按照需要从显示器上直观显示计算机硬件信息,方便直观地帮助用户了解硬件状态。
申请公布号 CN101276307A 申请公布日期 2008.10.01
申请号 CN200710200337.7 申请日期 2007.03.27
申请人 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 发明人 汪永安
分类号 G06F11/32(2006.01) 主分类号 G06F11/32(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1. 一种Super I/O测试方法,通过一设置在主板上的Super I/O芯片测试计算机硬件温度、电压及风扇转速等,其特征在于包括以下步骤:a.判断所述Super I/O芯片的ID,用以识别不同厂家的Super I/O芯片;b.设置所述Super I/O芯片的参数值;c.此时,显示输入端口界面,分别输入索引端口值和数据端口值;d.显示对应端口值的寄存器内容;若输入第一特定键,则显示温度和风扇转速等信息,此时,系统会首先判断输入的端口地址是否为硬件监控端口,若输入的端口地址是硬件监控端口,则将从所述Super I/O芯片中已读取出的十六进制寄存器内容转换为十进制数据值,若为温度寄存器,则所述十进制数据值为温度值;若为风扇转速寄存器,则所述十进制数据值为风扇转速值;若输入的端口地址不是硬件监控端口,则无温度、风扇转速及电压等信息显示,该显示功能被屏蔽。
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