发明名称 防止晶边区膜层剥落的半导体制造方法与内连线制作方法
摘要 一种防止晶边区膜层剥落的半导体制造方法,首先,于基底的正面上形成一层介电层。然后,形成一层光致抗蚀剂层,此光致抗蚀剂层覆盖基底的正面与部分背面。之后,仅对基底的背面进行洗边步骤,以去除基底的背面上的光致抗蚀剂层,而保留位于晶边区的光致抗蚀剂层。
申请公布号 CN100423193C 申请公布日期 2008.10.01
申请号 CN200510103921.1 申请日期 2005.09.15
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 陈彦宏;颜文彬;曾素玲
分类号 H01L21/027(2006.01);H01L21/768(2006.01);G03F7/00(2006.01) 主分类号 H01L21/027(2006.01)
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 陶凤波;侯宇
主权项 1. 一种防止晶边区膜层剥落的半导体制造方法,包括:提供一基底,该基底具有一正面与一背面,其中该正面包括该基底的一上表面与该基底的一侧边上半部,而该背面包括该基底的一下表面与该基底的一侧边下半部,且该上表面具有一晶边区与一中心区,该晶边区环绕该上表面外缘;于该基底的该正面上形成一介电层;形成一光致抗蚀剂层,该光致抗蚀剂层覆盖该基底的该正面、该侧边下半部与部分该下表面;以及仅对该基底的该背面进行一洗边步骤,以去除该基底的该背面上的该光致抗蚀剂层,保留位于该晶边区的该光致抗蚀剂层。
地址 台湾省新竹科学工业园区