发明名称 |
一体化自动集成测试系统 |
摘要 |
本发明公开了一种一体化自动集成测试系统包括测试信号发生单元、硬逻辑门主控单元、测试对象响应信号的采集单元、数据存储单元、数据通信单元、传感器,测试信号发生单元包括DSP数字处理器、D/A转换器;测试信号发生单元与硬逻辑门主控单元、测试对象响应信号的采集单元、数据存储单元、硬逻辑门主控单元相接,传感器与测试对象响应信号的采集单元、数据存储单元相接,硬逻辑门主控单元与数据通信单元相接。本发明测试精度高,成本低,外接连线减少,具有良好的易用性,测试系统的可靠性好和稳定性高。 |
申请公布号 |
CN100423039C |
申请公布日期 |
2008.10.01 |
申请号 |
CN200610154952.4 |
申请日期 |
2006.11.30 |
申请人 |
浙江大学 |
发明人 |
黄克强;安庆敏;吴明光 |
分类号 |
G08C19/00(2006.01);G08C19/16(2006.01) |
主分类号 |
G08C19/00(2006.01) |
代理机构 |
杭州求是专利事务所有限公司 |
代理人 |
张法高 |
主权项 |
1. 一种一体化自动集成测试系统,其特征在于,它包括测试信号发生单元(1)、硬逻辑门主控单元(2)、测试对象响应信号的采集单元(3)、数据存储单元(4)、数据通信单元(5)、传感器(6),测试信号发生单元(1)包括DSP数字处理器、D/A转换器;测试信号发生单元与硬逻辑门主控单元、测试对象响应信号的采集单元、数据存储单元相接,传感器与测试对象响应信号的采集单元、数据存储单元相接,硬逻辑门主控单元与数据通信单元相接。 |
地址 |
310027浙江省杭州市浙大路38号 |