发明名称 一体化自动集成测试系统
摘要 本发明公开了一种一体化自动集成测试系统包括测试信号发生单元、硬逻辑门主控单元、测试对象响应信号的采集单元、数据存储单元、数据通信单元、传感器,测试信号发生单元包括DSP数字处理器、D/A转换器;测试信号发生单元与硬逻辑门主控单元、测试对象响应信号的采集单元、数据存储单元、硬逻辑门主控单元相接,传感器与测试对象响应信号的采集单元、数据存储单元相接,硬逻辑门主控单元与数据通信单元相接。本发明测试精度高,成本低,外接连线减少,具有良好的易用性,测试系统的可靠性好和稳定性高。
申请公布号 CN100423039C 申请公布日期 2008.10.01
申请号 CN200610154952.4 申请日期 2006.11.30
申请人 浙江大学 发明人 黄克强;安庆敏;吴明光
分类号 G08C19/00(2006.01);G08C19/16(2006.01) 主分类号 G08C19/00(2006.01)
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司 代理人 张法高
主权项 1. 一种一体化自动集成测试系统,其特征在于,它包括测试信号发生单元(1)、硬逻辑门主控单元(2)、测试对象响应信号的采集单元(3)、数据存储单元(4)、数据通信单元(5)、传感器(6),测试信号发生单元(1)包括DSP数字处理器、D/A转换器;测试信号发生单元与硬逻辑门主控单元、测试对象响应信号的采集单元、数据存储单元相接,传感器与测试对象响应信号的采集单元、数据存储单元相接,硬逻辑门主控单元与数据通信单元相接。
地址 310027浙江省杭州市浙大路38号