发明名称 Wet cleaning method of semiconductor wafer having exposed nitride film
摘要
申请公布号 KR100861360(B1) 申请公布日期 2008.10.01
申请号 KR20060027162 申请日期 2006.03.24
申请人 发明人
分类号 H01L21/304 主分类号 H01L21/304
代理机构 代理人
主权项
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