| 发明名称 | 测试装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开一种测试装置。测试装置用以测试至少一按键的可靠度或寿命。测试装置包括至少一施压机构及至少一按压机构。施压机构包括一第一推动件、一第二推动件、一第一弹性体及一调整元件。第一弹性体设置于第一推动件及第二推动件之间。第一推动件及第二推动件相互移动一挤压距离之内，以挤压第一弹性体，并产生一按压力。调整元件用以微调挤压距离。按压机构包括一撞针。撞针设置于施压机构及按键之间。按压力推动撞针朝按键移动于一按压行程之内。 | ||
| 申请公布号 | CN101275884A | 申请公布日期 | 2008.10.01 |
| 申请号 | CN200710088995.1 | 申请日期 | 2007.03.29 |
| 申请人 | 明基电通股份有限公司 | 发明人 | 赖裕仁 |
| 分类号 | G01M19/00(2006.01);G01N3/32(2006.01) | 主分类号 | G01M19/00(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 陈小雯;李晓舒 |
| 主权项 | 1. 一种测试装置，用以测试至少一按键的可靠度或寿命，该测试装置包括：至少一施压机构，包括：一第一推动件；一第二推动件；一第一弹性体，设置于该第一推动件及该第二推动件之间，该第一推动件及该第二推动件相互移动一挤压距离，以挤压该第一弹性体，并产生一按压力；及一调整元件，用以微调该挤压距离；以及至少一按压机构，包括：一撞针，设置于该施压机构及该按键之间，该按压力推动该撞针朝该按键移动于一按压行程之内。 | ||
| 地址 | 中国台湾桃园县 | ||