发明名称 金属硅化物纳米线及其制作方法
摘要 本发明涉及一种金属硅化物纳米线,具有的线宽最小为7纳米。该金属硅化物纳米线的制作方法,包括在单晶硅衬底上生长一层绝缘膜,利用纳米尺度的加工技术刻蚀出用于制作金属硅化物纳米线的沟槽,采用金属溅射和蒸镀方法,在制作有纳米沟槽的硅衬底2上,沉积金属膜层4,进行高温退火使金属与沟槽底部暴露的单晶硅反应,生成金属硅化物,再采用化学腐蚀方法,腐蚀掉表面未反应的金属,在纳米沟槽内制作出分立的金属硅化物纳米线。本发明的金属硅化物纳米线具有位置、形状和线宽可控的特点,所以制备的金属硅化物纳米线可以应用于集成电路作为金属互连线,源漏和栅电极,完全可以根据实际需要进行制作。
申请公布号 CN100423245C 申请公布日期 2008.10.01
申请号 CN200510127904.1 申请日期 2005.12.07
申请人 中国科学院物理研究所 发明人 顾长志;岳双林;罗强;金爱子
分类号 H01L23/48(2006.01);H01L23/52(2006.01);H01L21/28(2006.01);H01L21/768(2006.01) 主分类号 H01L23/48(2006.01)
代理机构 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 代理人 高存秀
主权项 1. 一种金属硅化物纳米线的制作方法,包括以下步骤:1)取一块单晶硅衬底(2),在单晶硅衬底(2)上采用传统热氧化、化学气相沉积、磁控溅射或旋涂方法生长一层绝缘膜(1),其绝缘膜(1)厚度为10-1000纳米;2)利用纳米尺度的加工技术刻蚀出纳米线:在步骤1)得到的单晶硅衬底(2)上生长有绝缘层(1)的表面上,刻蚀出用于制作金属硅化物纳米线的沟槽(3),沟槽(3)宽度为欲制备的纳米线的线宽,刻蚀深度为绝缘层厚度,使沟槽(3)的底部的单晶硅暴露出来;3)采用金属溅射或蒸镀方法,在步骤2)制作有纳米沟槽(3)的硅衬底(2)上,沉积用于金属硅化物生长的金属膜层(4),其厚度为5-100纳米;4)然后在步骤3)得到的硅衬底(2)上,采用高温退火方法使金属与沟槽底部暴露的单晶硅反应,生成金属硅化物,其退火条件如下:氩气或氮气的流量为100-500sccm,衬底加热温度在300-900℃范围内,反应压力为1-100KPa;5)采用化学腐蚀方法,腐蚀掉绝缘膜(1)表面未反应的金属,在纳米沟槽(3)内制作出分立的金属硅化物纳米线(5)。
地址 100080北京市海淀区中关村南三街8号