发明名称 |
一种压制x-射线荧光分析测试样片的样品托 |
摘要 |
一种压制x-射线荧光分析测试样片的样品托,涉及用于x-射线荧光分析技术中难以压制成型的固体物料样片制备的样品托。其特征在于其样品托的结构为外壁与压片模具内腔壁相配合的、上端敞口的盒状样品托。本实用新型的盒状样品托可由价格低廉的易拉罐等废铝片压制而成,代替了成本较高的化学试剂,减少了压制样品片被污染的可能性,减少了测量的误差,减少了样片表面的花面、表面跑料、表面不均匀、提高样片表面的光滑度、解决样片高度不够和内部不均匀、减少操作难度、降低分析成本、提高了分析速度。 |
申请公布号 |
CN201122138Y |
申请公布日期 |
2008.09.24 |
申请号 |
CN200720190855.0 |
申请日期 |
2007.12.17 |
申请人 |
中国铝业股份有限公司 |
发明人 |
梁倩;石勇;孙洪斌 |
分类号 |
G01N1/28(2006.01);G01N23/223(2006.01) |
主分类号 |
G01N1/28(2006.01) |
代理机构 |
中国有色金属工业专利中心 |
代理人 |
李迎春 |
主权项 |
1.一种压制x-射线荧光分析测试样片的样品托,其特征在于其样品托的结构为外壁与压片模具内腔壁相配合的、上端敞口的盒状样品托。 |
地址 |
100082北京市海淀区西直门北大街62号 |