发明名称 存储器的擦除方法
摘要 一种存储器的擦除方法,包括下述步骤:对存储器的多个存储单元同时执行擦除操作;对一个未执行过验证操作的存储单元执行验证操作,若执行验证操作的存储单元是“未擦除”或“擦除不足”,则对所述的多个存储单元再同时执行擦除操作后,对另一个未执行过验证操作的存储单元执行验证操作,若执行验证操作的存储单元不是“未擦除”或“擦除不足”,则对另一个未执行过验证操作的存储单元执行验证操作。本发明的存储器的擦除方法对每个存储单元的验证操作只执行一次,因此,应用本发明所提供的擦除方法可以缩短存储器的擦除过程,减少“过擦除”的存储单元,且可消除“卡住的位”所造成的擦除失败。
申请公布号 CN101271731A 申请公布日期 2008.09.24
申请号 CN200710038452.9 申请日期 2007.03.22
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 缪威权;郑勇;陈宏领;张晓东;潘国华;乔静
分类号 G11C16/16(2006.01) 主分类号 G11C16/16(2006.01)
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人 逯长明
主权项 1. 一种存储器的擦除方法,所述的存储器包括多个存储单元,所述的方法包括下述步骤:(1)施加擦除脉冲,对存储器的多个存储单元同时执行擦除操作;(2)对一个未执行过验证操作的存储单元执行验证操作,判断执行验证操作的存储单元是否“未擦除”或“擦除不足”,若存储单元是“未擦除”或“擦除不足”,则执行步骤(3),若存储单元不是“未擦除”或“擦除不足”,则执行步骤(4);(3)施加擦除脉冲,对所述的多个存储单元再同时执行擦除操作;(4)判断所述的多个存储单元是否都已执行过验证操作,若所述的多个存储单元不是都已执行过验证操作,则返回至步骤(2),若所述的多个存储单元都已执行过验证操作,则判定擦除过程完成。
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