发明名称 |
陶瓷电子元件制造方法与凹版印刷法 |
摘要 |
一种印刷位置偏差的检测方法,具备:制备长条合成片的步骤,合成片的支承膜上形成有陶瓷生片;以及通过凹版印刷法对所述陶瓷生片上印刷区域内的第一区域印刷第一膏的第一凹版印刷步骤;在所述凹版印刷步骤中,在所述陶瓷生片或支承膜上形成第一印记,将预先设定的第一印记期望的通过时间与所述第一凹版印刷步骤中形成的第一印记通过时间作比较,所述第一印记的形状为使所述陶瓷生片长度方向尺度沿该陶瓷生片的宽度方向变化,由检测所述第一印记的通过的传感器来测量作为所述通过时间的所述第一印记的检测开始时刻及所述第一印记通过的时间期间,通过将所述检测开始时刻与预先设定的期望的检测开始时刻作比较,求得出所述陶瓷生片长度方向的位置偏差量,通过将所述时间期间与预先设定的时间期间作比较,得出沿所述陶瓷生片宽度方向的位置偏差量。 |
申请公布号 |
CN101271783A |
申请公布日期 |
2008.09.24 |
申请号 |
CN200810095828.4 |
申请日期 |
2004.02.23 |
申请人 |
株式会社村田制作所 |
发明人 |
石本裕一;桥本宪 |
分类号 |
H01G13/00(2006.01);H01G4/005(2006.01);H01G4/30(2006.01) |
主分类号 |
H01G13/00(2006.01) |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 |
代理人 |
张鑫 |
主权项 |
1.一种印刷位置偏差的检测方法,具备:制备长条合成片的步骤,合成片的支承膜上形成有陶瓷生片;以及通过凹版印刷法对所述陶瓷生片上印刷区域内的第一区域印刷第一膏的第一凹版印刷步骤;在所述凹版印刷步骤中,在所述陶瓷生片或支承膜上形成第一印记,将预先设定的第一印记期望的通过时间与所述第一凹版印刷步骤中形成的第一印记通过时间作比较,其特征在于,所述第一印记的形状为使所述陶瓷生片长度方向尺度沿该陶瓷生片的宽度方向变化,由检测所述第一印记的通过的传感器来测量作为所述通过时间的所述第一印记的检测开始时刻及所述第一印记通过的时间期间,通过将所述检测开始时刻与预先设定的期望的检测开始时刻作比较,求得出所述陶瓷生片长度方向的位置偏差量,通过将所述时间期间与预先设定的时间期间作比较,得出沿所述陶瓷生片宽度方向的位置偏差量。 |
地址 |
日本京都府长冈京市 |