发明名称 Method and apparatus for optically analyzing a surface
摘要 A method and apparatus for analyzing a surface of a test object employs apparatus with a scanning interferometry system which generates a windowed interferometric signal from the surface of a test object to characterize the surface of the test object.
申请公布号 US7428056(B2) 申请公布日期 2008.09.23
申请号 US20060373862 申请日期 2006.03.10
申请人 KLA-TENCOR TECHNOLOGIES CORPORATION 发明人 FREISCHLAD KLAUS;TANG SHOUHONG
分类号 G01B11/02 主分类号 G01B11/02
代理机构 代理人
主权项
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