发明名称 Probenverschiebungsverfahren in Ladungsteilchenstrahlgerät und Ladungsteilchenstrahlgerät sowie Probe für Transmissionselektronenmikroskop
摘要 In einer Kammer eines Ladungsteilchenstrahlgerätes wird die Probe auf dem Probensubstrat ergriffen und zu dem Probenhalter transportiert und dort die Lage der Probe gesteuert, wenn die Probe auf dem Probenhalter befestigt ist. Dort beherrscht man einen Markiervorgang, der in der Kammer durch einen Strahl eine Markierung auf eine Fläche der Probe Wb, die auf dem Probensubstrat vorhanden ist, aufbringt; einen Transportvorgang, der die Probe durch eine Probengreifeinrichtung ergreift und diese vom Probensubstrat zum Probenhalter transportiert; und einen Lagesteuerungsvorgang, der die Lage der Probe steuert, wenn die Probe am Probenhalter befestigt ist, während die auf der Oberfläche der Probe aufgebrachte Markierung beobachtet wird.
申请公布号 DE102008013753(A1) 申请公布日期 2008.09.18
申请号 DE200810013753 申请日期 2008.03.12
申请人 SII NANOTECHNOLOGY INC. 发明人 TASHIRO, JUNICHI;MUNEKANE, MASANAO
分类号 H01J37/20;H01J37/26 主分类号 H01J37/20
代理机构 代理人
主权项
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