发明名称 供多个积体电路装置使用之容器长度量规
摘要 本创作提供一种供多个积体电路装置使用之容器长度量规,其主要系由一基座、一定位座及一比对座所构成,基座之两侧端分别设有二个以上之盲孔,定位座亦设有相对于基座侧端数目之洞孔,而比对座则设有相对于基座另一侧端数目之长形孔,利用数个螺丝将定位座及比对座螺固于基座上,其中,比对座相对应定位座之侧端,形成阶梯状之容许误差结构,一旦容器之长度过长时,便无法通过量规,倘若容器长度过短,则被轻易推出量规,只有适当长度之容器,被量规卡止,如此一来便可快速、精确地量测容器之长度,俾以节省人力时间、改善传统视觉判读之误差。
申请公布号 TW346190 申请公布日期 1998.11.21
申请号 TW087208662 申请日期 1998.06.02
申请人 南茂科技股份有限公司 发明人 胡宗仁
分类号 G01B3/00 主分类号 G01B3/00
代理机构 代理人 黄重智 新竹巿四维路一三○号十三楼之七
主权项 1.一种「供多个积体电路装置使用之容器长度量规」,其特征为该量规主要包括:一基座,其两端侧顶面,分别设有二个以上之盲孔;一定位座,其位于基座一侧端,并设有相对于基座侧端盲孔数目之洞孔;一比对座,其位于基座另一侧端,且其上设有相对于基座侧端盲孔数目之长形孔,而其相对应定位座之侧端,设有容许误差结构;藉由螺丝将上述定位座、比对应螺固于基座上,即可提供容器推入量规中进行长度之测量。2.根据申请专利范围第1项所述之「供多个积体电路装置使用之容器长度量规」,其中,比对座之长形孔为椭圆形者。3.根据申请专利范围第1项所述之「供多个积体电路装置使用之容器长度量规」,其中,比对座之容许误差结构为阶梯状者。图式简单说明:第一图为本创作之立体分解图。第二图为本创作之立体外观图。第三图为本创作之实施例图。第四图为本创作之另一实施例图。
地址 新竹科学工业园区新竹县研发一路一号