| 发明名称 | 侧面照明的三维边缘定位方法 | ||
| 摘要 | 用于定位部件的边缘以便对部件进行验收测试的设备和方法。白光源(12)照亮了安装在支承件(14)上并相对于光源转动的部件。由部件反射的光沿着部件的边缘产生了部件的轮廓。通过照相机(16)来观察该部件以便获得包括其边缘的部件的图像。处理器(18)分析该图像以便在三维空间中定位部件的边缘。图像的分析包括：在部件相对于光源转动时，在部件的边缘处确定包括所观察到的图像的像素的数量。该部件具有一个以上的边缘，并且每个边缘利用该方法定位。部件的边缘的位置现在用于一坐标系中以便定位部件的其他表面结构。 | ||
| 申请公布号 | CN100419375C | 申请公布日期 | 2008.09.17 |
| 申请号 | CN03107988.1 | 申请日期 | 2003.03.28 |
| 申请人 | 通用电气公司 | 发明人 | K·G·哈丁 |
| 分类号 | G01B11/24(2006.01) | 主分类号 | G01B11/24(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 崔幼平 |
| 主权项 | 1. 一种用于定位部件(P)的边缘(E1或E2)以便使用结构化光学系统对部件进行验收测试的方法，其包括：将发散光源(12)定位在部件的附近并且利用从该光源发射的光来照亮部件；将部件相对于光源转动，因而由部件反射的来自光源的光沿着部件的边缘产生了部件的轮廓；利用成像装置(16)观察该部件以便获得部件的边缘的图像；以及处理该图像以便利用通过分析图像产生的数据在三维空间中定位部件的边缘；用部件的边缘在一坐标系中的位置来定位部件的其他表面结构和计算该部件的表面结构信息；其中对该部件的表面结构信息的计算确定该部件的接受性。 | ||
| 地址 | 美国纽约州 | ||