| 发明名称 | CDD/CMOS传感器检测用的图像处理方法和系统 | ||
| 摘要 | 本发明的第一方面涉及图像传感器(1)的检测系统，用来检测传感器(1)提供的图像(I<SUB>1</SUB>－I<SUB>3</SUB>)，在处理过程中，对图像的每个像素都进行同样的处理，其特征在于该传感器包括多个处理模块(MT<SUB>1</SUB>－MT<SUB>3</SUB>)，每个模块都包括：带有图像区(I)的图像存储器；与存储器相连的处理器(P1－P4)，用于处理图像区(I)中存储图像的像素组。本发明还涉及图像传感器(1)的检测方法，用来检测传感器(1)提供的图像(I<SUB>1</SUB>－I<SUB>3</SUB>)，在处理过程中，对图像的每个像素都进行相同的处理，其特征在于该检测方法包括以下步骤：在多个处理模块(MT<SUB>1</SUB>－MT<SUB>3</SUB>)中存储上述图像(I<SUB>1</SUB>－I<SUB>3</SUB>)；在每个处理模块中对图像的像素组(a、b、c、d)进行运算处理。 | ||
| 申请公布号 | CN101268702A | 申请公布日期 | 2008.09.17 |
| 申请号 | CN200680034798.5 | 申请日期 | 2006.09.21 |
| 申请人 | 信息与电子工作室 | 发明人 | 雅克·亨尼斯;让－克洛德·勒克莱尔;洛朗·迪弗雷舒 |
| 分类号 | H04N17/00(2006.01);G06T1/20(2006.01);G01R31/26(2006.01) | 主分类号 | H04N17/00(2006.01) |
| 代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人 | 许静 |
| 主权项 | 1.一种图像传感器(1)的检测系统，用来检测传感器(1)提供的图像(I1-I3)，在处理过程中，对图像的每个像素都进行相同的运算处理，其特征在于，该传感器包括多个处理模块(MT1-MT4)，每个模块包括：带有图像区(I)的图像存储器；与存储器相连的处理器(P1-P4)，用于处理图像区(I)中存储图像的像素组。 | ||
| 地址 | 法国普雷 | ||