发明名称 发光测定的装置
摘要 本发明涉及应用电极上的电致化学发光对样品中的有意义的分析物进行结合测量的方法、装置、试剂和药盒。采用该方法时,试剂和药盒颗粒可以通过重力、离心或磁性吸引沉淀在电极表面上。所述装置包括在接近电极区内产生磁场的磁体。
申请公布号 CN100419414C 申请公布日期 2008.09.17
申请号 CN02132026.8 申请日期 1992.02.07
申请人 拜奥维里斯公司 发明人 J·K·利兰;H·P·沙;J·H·肯滕;J·E·古德曼;G·E·洛克;G·F·布莱克本;R·J·梅西
分类号 G01N27/26(2006.01);G01N21/66(2006.01);G01N33/53(2006.01) 主分类号 G01N27/26(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 王其灏
主权项 1. 应用电极表面测量电致化学发光对样品中的有意义分析物进行结合测量的装置,该装置包括:(a)样品室,该样品室限定了样品含量并与进料口和排料口相交;(b)电极,该电极的电极表面被暴露到所述样品含量的一部分并且该电极位于所述样品含量的一部分的附近;(c)电压控制装置,用于将足以产生发光的电化学能施加在所述电极上;(d)用于磁性收集在所述电极表面上的颗粒的装置,其中该收集装置包括在靠近所述电极表面的区域中产生磁场的磁体;和(e)光检测装置,用于测量在所述电极上产生的发光。
地址 美国马里兰州