发明名称 回流处理方法及TFT之制造方法
摘要 本发明是提供能够确保回流处理的精度,并达到节省光阻剂以及削减步骤数之回流处理方法及薄膜电晶体(TFT)之制造方法。该回流处理方法系藉由以相对于配线用光阻遮罩231每单位长度的体积V#sB!2#eB!,源极电极用光阻遮罩210(汲极电极用光阻遮罩211)每单位长度的体积V#sB!1#eB!为1.5~3倍的方式,设定线宽W#sB!1#eB!及W#sB!2#eB!,确保源极电极用光阻遮罩210(汲极电极用光阻遮罩211)变形所获得之变形光阻剂212的线宽W#sB!3#eB!有足够的宽度来包覆凹部220,并且小幅抑制配线用光阻遮罩231变形所获得之变形光阻剂232的线宽W#sB!4#eB!。
申请公布号 TW200837833 申请公布日期 2008.09.16
申请号 TW097102010 申请日期 2008.01.18
申请人 东京威力科创股份有限公司 发明人 麻生丰;白石雅敏;田中志信
分类号 H01L21/312(2006.01);H01L21/786(2006.01);H01L21/027(2006.01) 主分类号 H01L21/312(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本
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