发明名称 | 回流处理方法及TFT之制造方法 | ||
摘要 | 本发明是提供能够确保回流处理的精度,并达到节省光阻剂以及削减步骤数之回流处理方法及薄膜电晶体(TFT)之制造方法。该回流处理方法系藉由以相对于配线用光阻遮罩231每单位长度的体积V#sB!2#eB!,源极电极用光阻遮罩210(汲极电极用光阻遮罩211)每单位长度的体积V#sB!1#eB!为1.5~3倍的方式,设定线宽W#sB!1#eB!及W#sB!2#eB!,确保源极电极用光阻遮罩210(汲极电极用光阻遮罩211)变形所获得之变形光阻剂212的线宽W#sB!3#eB!有足够的宽度来包覆凹部220,并且小幅抑制配线用光阻遮罩231变形所获得之变形光阻剂232的线宽W#sB!4#eB!。 | ||
申请公布号 | TW200837833 | 申请公布日期 | 2008.09.16 |
申请号 | TW097102010 | 申请日期 | 2008.01.18 |
申请人 | 东京威力科创股份有限公司 | 发明人 | 麻生丰;白石雅敏;田中志信 |
分类号 | H01L21/312(2006.01);H01L21/786(2006.01);H01L21/027(2006.01) | 主分类号 | H01L21/312(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 林志刚 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |