发明名称 | 高速光检二极体之制造方法 | ||
摘要 | 一种高速光检二极体之制造方法,主要系包括下列步骤:一、设置介电层:于N型半导体层中心区掺杂形成之P型半导体层的区域外缘设置介电层;二、设置金属电极:于介电层上的外缘处结合二金属电极,令二金属电极一端与P型半导体层接触;三、钝化:以笑气(N#sB!2#eB!O)钝化P型半导体层,以消除因蚀刻所造成之晶格缺陷;以及四、设置抗反射层:于金属电极与P型半导体层表面设置抗反射层;藉上述精简之步骤,即可使高速光检二极体达到低电容及减少漏电流者。 | ||
申请公布号 | TW200837860 | 申请公布日期 | 2008.09.16 |
申请号 | TW096107335 | 申请日期 | 2007.03.03 |
申请人 | 鼎元光电科技股份有限公司 | 发明人 | 黄润杰;蔡志宏;宋嘉斌 |
分类号 | H01L21/66(2006.01);H01L33/00(2006.01) | 主分类号 | H01L21/66(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 蔺超群 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区工业东四路16号 |