发明名称 高速光检二极体之制造方法
摘要 一种高速光检二极体之制造方法,主要系包括下列步骤:一、设置介电层:于N型半导体层中心区掺杂形成之P型半导体层的区域外缘设置介电层;二、设置金属电极:于介电层上的外缘处结合二金属电极,令二金属电极一端与P型半导体层接触;三、钝化:以笑气(N#sB!2#eB!O)钝化P型半导体层,以消除因蚀刻所造成之晶格缺陷;以及四、设置抗反射层:于金属电极与P型半导体层表面设置抗反射层;藉上述精简之步骤,即可使高速光检二极体达到低电容及减少漏电流者。
申请公布号 TW200837860 申请公布日期 2008.09.16
申请号 TW096107335 申请日期 2007.03.03
申请人 鼎元光电科技股份有限公司 发明人 黄润杰;蔡志宏;宋嘉斌
分类号 H01L21/66(2006.01);H01L33/00(2006.01) 主分类号 H01L21/66(2006.01)
代理机构 代理人 蔺超群
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区工业东四路16号