发明名称 半导体装置及其形成方法
摘要 本发明提供一种形成一具有一主动区域(2)及一环绕该主动区域之终止区域(3)的半导体装置之方法,其包含提供一半导体基板(4)、在该半导体基板上方提供一具有一第一导电性类型之半导体层(6)及在该半导体层上方形成一遮罩层(52)。该遮罩层(52)确定该半导体层之一表面的至少两个部分(54、56)之轮廓:一第一确定轮廓部分(54)在该主动区域(2)中确定一漂移区(8)之轮廓且一第二确定轮廓部分(56)在该终止区域(3)中确定一终止区(12)之轮廓。提供具有一第二导电性类型之半导体材料至该第一确定轮廓部分(54)及该第二确定轮廓部分(56),以提供一埋入于该半导体装置之该主动区域(2)中之该半导体层(6)中之具有该第二导电性类型的漂移区(8)及一埋入于该半导体装置之该终止区域(3)中之该半导体层(6)中之具有该第二导电性类型的第一终止区(12)。
申请公布号 TW200837884 申请公布日期 2008.09.16
申请号 TW097100887 申请日期 2008.01.09
申请人 飞思卡尔半导体公司 发明人 伊关妮N 史帝芬诺夫;伊凡纳 德兰;尚 米歇尔 汉斯
分类号 H01L21/822(2006.01);H01L29/66(2006.01);H01L29/06(2006.01) 主分类号 H01L21/822(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 美国