发明名称 |
将电荷俘获在绝缘膜内非易失性地存储信息的存储器 |
摘要 |
本发明提供非易失性半导体存储器,其具有多个非易失性存储单元,各上述非易失性存储单元具有绝缘栅型晶体管,多条位线,基准电流发生电路,比较来自上述基准电流发生电路的基准电流与来自上述读出电流发生电路的残留电流,输出对应于该比较结果的信号的比较电路,上述比较电路比较上述残留电流和上述基准电流,以及具有按照上述比较电路的输出信号生成内部读出数据的内部读出电路。读非易失性半导体存储器能够高速地读出数据。 |
申请公布号 |
CN100416705C |
申请公布日期 |
2008.09.03 |
申请号 |
CN03101853.X |
申请日期 |
2003.01.20 |
申请人 |
三菱电机株式会社 |
发明人 |
大石司 |
分类号 |
G11C16/06(2006.01);H01L29/792(2006.01) |
主分类号 |
G11C16/06(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
刘宗杰;叶恺东 |
主权项 |
1. 一种非易失性半导体存储器,其特征在于,具有被排列成行列状,各自非易失性地存储数据的多个非易失性存储单元,各上述非易失性存储单元具有按照存储数据而设定阈值电压的绝缘栅型晶体管,上述阈值电压至少取与第1逻辑电平的数据对应的第1状态和与第2逻辑电平的数据对应的第2状态;具有对上述存储单元列配置,与各自对应的列的存储单元连接的多条位线,在数据读出时用于向选择列的位线供给电流的读出电流发生电路及用于发生基准电流的基准电流发生电路;上述基准电流与来自上述读出电流发生电路流过上述选择列的位线的读出电流相关,是当上述第1状态的存储单元被选择时对应于流过上述选择列的位线的电流的第1读出电流,和当上述第2状态的存储单元被选择时对应于流过上述选择列的位线的电流的第2读出电流的平均值的大小,上述读出电流是从上述读出电流发生电路流经上述选择列存储单元的单元电流的残留电流;具有比较来自上述基准电流发生电路的基准电流与来自上述读出电流发生电路的残留电流,输出对应于该比较结果的信号的比较电路;上述比较电路比较上述残留电流和上述基准电流;以及具有按照上述比较电路的输出信号生成内部读出数据的内部读出电路。 |
地址 |
日本东京都 |