发明名称 半导体装置以及半导体装置的制造方法
摘要 本发明提供一种半导体装置及其制造方法,在使用SiC基板的半导体装置中,JTE层几乎不会受到固定电荷的影响,可取得稳定的绝缘击穿耐压。本发明的第一方式的半导体装置具备:SiC外延层(2),其具有n型导电性;杂质层(3),其形成在SiC外延层(2)的表面内,并具有p型导电性;以及JTE层(5),其与杂质层(3)邻接地形成,并具有p型导电性,且杂质浓度低于杂质层(3)。此处,JTE层(5)形成在从SiC外延层(2)的上表面隔开预定的距离的位置,JTE层(5)的上方形成有具有n型导电性的SiC区域(10)。
申请公布号 CN101258608A 申请公布日期 2008.09.03
申请号 CN200680032886.1 申请日期 2006.05.09
申请人 三菱电机株式会社 发明人 樽井阳一郎;大塚健一;今泉昌之
分类号 H01L29/861(2006.01);H01L21/329(2006.01);H01L21/336(2006.01);H01L29/06(2006.01);H01L29/12(2006.01);H01L29/47(2006.01);H01L29/78(2006.01);H01L29/872(2006.01) 主分类号 H01L29/861(2006.01)
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 郭放
主权项 1.一种半导体装置,其特征在于,该半导体装置具备:SiC区域(2),其具有n型导电性;杂质层(3),其形成在上述SiC区域的表面内,并具有p型导电性;以及JTE层(5),其与上述杂质层邻接地形成,并具有p型导电性,且杂质浓度低于上述杂质层,其中,上述JTE层形成在从上述SiC区域的上表面隔开预定的距离的位置,上述JTE层的上方形成有具有n型导电性的区域(10)。
地址 日本东京