用于检验及最佳化半导体积体电路设计之系统与方法

摘要

在一用于检查一积体电路设计是否遵循为个别几何参数规定极限值之设计规则的设计规则检查系统(10)中，使用非二元函数来模拟系统良率损失随该等几何参数值而变化之方式。此使得在该几何参数遵循该设计规则但取一接近该设计规则极限值之状况下可将一值指派给系统良率损失。