| 发明名称 | 扫描测试方法 | ||
| 摘要 | 一种测试集成电路的方法，其包括通过串行地将测试矢量位提供给以第一扫描时钟信号(42)计时的移位寄存器装置(20)来为移位寄存器装置提供测试矢量。测试矢量位在以第一时钟(42)计时的移位寄存器装置的相邻部分之间传递，并且集成电路对测试矢量的响应输出被提供并分析。集成电路对测试矢量的输出响应是在慢于第一时钟信号的第二时钟信号(56)的控制下提供的。该测试方法通过提高测试矢量和结果进出移位寄存器的速度加速了处理，但是并不包括测试处理的稳定性。此外，该方法可以不会增加集成在电路基板上的测试电路的复杂性。 | ||
| 申请公布号 | CN101258417A | 申请公布日期 | 2008.09.03 |
| 申请号 | CN200680032992.X | 申请日期 | 2006.09.07 |
| 申请人 | NXP股份有限公司 | 发明人 | 劳伦特·苏伊夫;迪代·盖罗 |
| 分类号 | G01R31/3185(2006.01) | 主分类号 | G01R31/3185(2006.01) |
| 代理机构 | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈源;张天舒 |
| 主权项 | 1.一种测试集成电路的方法，其包括：通过串行地将测试矢量位提供给以第一扫描时钟信号(42)计时的所述移位寄存器装置(20)来向移位寄存器装置提供测试矢量，并且在以第一时钟信号(42)计时的所述移位寄存器装置的相邻部分之间传递所述测试矢量位；将所述测试矢量从所述移位寄存器装置提供至集成电路(10)的终端；在启动信号(43)的控制下，将所述集成电路对所述测试矢量的输出响应作为并行输出响应位提供至所述移位寄存器装置(20)；在以所述第一时钟信号(42)计时的所述移位寄存器装置的相邻部分之间传递所述输出响应位，并且串行地输出来自以所述第一时钟信号(42)计时的所述移位寄存器装置的输出响应；以及分析所述输出响应来测试所述集成电路的功能，其中所述集成电路对测试矢量的输出响应是在慢于所述第一时钟信号的第二时钟信号(56)的进一步控制下提供的。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||