发明名称 |
显微测量装置 |
摘要 |
本发明提供一种显微测量装置,所述显微测量装置具有:被相对镜筒(11)固定、并用于会聚来自物镜(Lo)的平行光线的第1中间透镜(L1);半透半反镜(HM),使通过所述物镜(Lo)和所述第1中间透镜(L1)的光的一部分通过、一部分反射;在被所述半透半反镜(HM)反射的光通过的位置上被设置成可沿该光路(C)移动的第2中间透镜(L2);检测器(16),设置在所述第2中间透镜(L2)的前面并且被设置成可沿光路(C)移动;移动机构(M1、M2),移动所述第2中间透镜(L2)和检测器(16),使得所述检测器(16)的成像位置与来自所述样品(S)的光被第2中间透镜(L2)会聚后的会聚点一致;以及调节所述移动机构(M1、M2)的移动量的控制部(20)。本发明不更换物镜便可以改变倍率和/或检测范围。 |
申请公布号 |
CN101256113A |
申请公布日期 |
2008.09.03 |
申请号 |
CN200810081083.6 |
申请日期 |
2008.02.26 |
申请人 |
大塚电子株式会社 |
发明人 |
泷沢雅也 |
分类号 |
G01M11/02(2006.01);G01B9/04(2006.01) |
主分类号 |
G01M11/02(2006.01) |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
曲瑞 |
主权项 |
1.一种显微测量装置,其特征在于,具有:使来自样品的光成为平行光线的物镜;用于会聚来自所述物镜的平行光线的第1中间透镜;设置在所述第1中间透镜的与所述物镜相反一侧的半透半反镜,该半透半反镜使通过所述物镜和所述第1中间透镜的光的一部分通过,并使一部分反射;固定所述物镜、所述第1中间透镜、和所述半透半反镜的镜筒;在被所述半透半反镜反射的光通过的位置上设置的第2中间透镜,该第2中间透镜可以沿被所述半透半反镜反射的光路移动;设置在所述第2中间透镜的与所述半透半反镜相反一侧的检测器,该检测器可以沿被所述半透半反镜反射的光路移动;移动所述第2中间透镜的第1移动机构;移动所述检测器的第2移动机构;以及控制部,调节所述第1移动机构和/或第2移动机构的移动量,使得所述检测器的成像位置与来自所述样品的光被第2中间透镜会聚后的会聚点一致。 |
地址 |
日本大阪 |