发明名称 使用多遍形成方式的图形基元成形装置及方法
摘要 发明是关于一种使用多遍形成方式的图形基元成形装置及方法,在其中一实施例中,在通过绘图管线之图形基元资料的第一遍中,为该图元产生一个压缩的Z-缓冲区。还产生一个图元遮罩,该图元遮罩指示是否该图元的所有像素均为视觉上隐藏;在第二遍中,仅当图元的图元遮罩指示该图元的某些部分可见时,才将该给定图元的图形资料传送到管线中。因此,在该图元上进行了一个两级Z-测试。在该两级Z-测试中,使用在第一遍内所产生该压缩的Z-缓冲区以一次将几个像素群进行第一级比较的使用多遍形成方式的图形基元成形装置及方法。
申请公布号 CN100416609C 申请公布日期 2008.09.03
申请号 CN200410073708.6 申请日期 2004.09.02
申请人 旭上绘图股份有限公司 发明人 洪洲;徐建明
分类号 G06T15/10(2006.01) 主分类号 G06T15/10(2006.01)
代理机构 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人 寿宁;张华辉
主权项 1. 一种多遍形成多图元的方法,其特征在于其包括下列步骤:在一第一遍中:对于每一该些图元仅传送有限组的图形资料通过一绘图管线;处理该有限组的图形资料而建立一压缩的Z-缓冲区,该压缩的Z-缓冲区包括多数个Z-记录,每一该些Z-记录包含多数个像素的Z资讯;对于每一该些图元,若该图元的任一像素被确定为可见,则设置一可视性指示;在一第二遍中:对于每一该些图元,确定该可视性指示是否被设置;将该可视性指示未被设置的该些图元舍弃,而不将其经该绘图管线传送;对于该可视性指示已被设置的该些图元,传送一组完整的图形资料;以及对图形资料进行一两级Z-测试,其中一第一级Z-测试是将一当前图元的图形资料与该压缩的Z-缓冲区内的相应资讯进行比较,以及其中一第二级Z-测试是逐一像素进行Z-测试,其中该第二级Z-测试仅对该压缩的Z-缓冲区中的Z-记录内的像素进行,该Z-记录内,宏块像素在该第一级Z-测试中确定为一部分像素可见而非全部像素可见。
地址 美国加州