| 发明名称 | 透镜位置检测装置、透镜镜筒及摄像装置 | ||
| 摘要 | 透镜位置检测装置(200)包括位置检测用磁体(202)、磁力检测传感器(204)、位置信息生成单元(206)等。位置检测用磁体(202)安装在透镜保持框(1460)的后表面上。磁力检测传感器(204)生成大小与从位置检测用磁体(202)的磁极产生的磁力强度对应的检测信号，配置在与光轴平行且经过位置检测用磁体(202)的直线上。磁力检测传感器(204)输出电压与磁力的强度对应(成比例)的检测信号。位置信息生成单元(206)的放大电路(208)对来自磁力检测传感器(204)的检测信号(Ss)进行放大。 | ||
| 申请公布号 | CN100416330C | 申请公布日期 | 2008.09.03 |
| 申请号 | CN200580001145.2 | 申请日期 | 2005.08.16 |
| 申请人 | 索尼株式会社 | 发明人 | 武井智哉;高冈俊史;高木秀勇;伊藤好一;林正宪;安井智仁;山冈英树;田下坚太郎 |
| 分类号 | G02B7/04(2006.01);G02B7/08(2006.01) | 主分类号 | G02B7/04(2006.01) |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 李伟 |
| 主权项 | 1. 一种透镜位置检测装置，用于对基座上的透镜在光轴方向上的位置进行检测，其特征在于包括：位置检测用磁体，设置在所述透镜及基座中的一个上；磁力检测传感器，设置在所述透镜及基座中的另一个上，生成大小与从所述位置检测用磁体的磁极产生的磁力强度对应的检测信号；以及位置信息生成单元，根据所述检测信号的大小，生成所述基座上的所述透镜在所述光轴方向上的位置信息，其中，所述位置检测用磁体在与所述光轴平行的方向上被磁化，所述磁力检测传感器配置在经过所述位置检测用磁体、且与所述透镜的光轴平行的直线上。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||