发明名称 |
垂直磁记录介质的检查方法及其检查装置 |
摘要 |
本发明提供了一种垂直磁记录介质的检查方法及其检查装置。该检查装置通过精确地分离并检测介质噪声成分而将垂直磁记录介质的介质噪声成分分离出来以减小差错率,从而检查垂直磁记录介质的性能。利用相关矩阵,从根据磁头的再生波形而获得的垂直磁记录介质的介质噪声中分离并检测依赖于磁迁移点的抖动噪声和T50噪声,以及添加到DC成分中的DC噪声。通过将DC噪声成分的基矩阵添加到用于检测介质噪声成分的噪声功率的线性表达式,利用最小二乘法与依赖于磁迁移点的波动的其他介质噪声分离地检查DC噪声。 |
申请公布号 |
CN101256805A |
申请公布日期 |
2008.09.03 |
申请号 |
CN200810002069.2 |
申请日期 |
2008.01.09 |
申请人 |
富士通株式会社 |
发明人 |
板仓昭宏;金冈利知 |
分类号 |
G11B20/24(2006.01);G11B5/84(2006.01) |
主分类号 |
G11B20/24(2006.01) |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 |
代理人 |
孙海龙 |
主权项 |
1.一种垂直磁记录介质检查方法,所述方法用于检查垂直磁记录介质的介质噪声,所述方法包括以下步骤:通过磁头从所述垂直磁记录介质中读取记录数据并获得再生波形的步骤;通过计算机从所述再生波形中提取介质噪声成分并根据所提取出的介质噪声创建所述介质噪声的相关矩阵的步骤;基于由与磁化迁移噪声相关的相关矩阵和与DC噪声相关的相关矩阵的线性和所指定的噪声相关矩阵,并基于提取的所述介质噪声的相关矩阵,由计算机利用最小二乘法,计算所述与磁化迁移噪声相关的相关矩阵的第一系数和所述与DC噪声相关的相关矩阵的第二系数的步骤;以及利用所述第一系数和所述第二系数,由计算机分别计算磁化迁移噪声成分的功率和DC噪声成分的功率的步骤。 |
地址 |
日本神奈川县川崎市 |