| 发明名称 | 多层光学记录介质和光学记录方法 | ||
| 摘要 | 一种多层光学记录介质，它包括至少多层信息层，所述多层信息层至少包括能够通过激光照射记录信息的相变记录层以及反射层，其中从激光照射侧看除了最里面信息层之外的每层信息层包括下保护层、相变记录层、上保护层、反射层和透光层，在从激光照射侧看除了最里面层之外的每层信息层中的上保护层和透光层由包含Sn氧化物的材料构成，并且在从激光照射侧看除了最里面层之外的每层信息层中的上保护层的厚度为2nm至15nm。 | ||
| 申请公布号 | CN101258546A | 申请公布日期 | 2008.09.03 |
| 申请号 | CN200680032517.2 | 申请日期 | 2006.08.31 |
| 申请人 | 株式会社理光 | 发明人 | 关口洋义;篠塚道明;真贝胜;日比野荣子 |
| 分类号 | G11B7/24(2006.01);G11B7/254(2006.01);G11B7/257(2006.01);G11B7/258(2006.01) | 主分类号 | G11B7/24(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 王冉 |
| 主权项 | 1.一种多层光学记录介质，它包括：至少多层信息层：其中所述多层信息层至少包括能够通过激光照射记录信息的相变记录层以及反射层，其中从激光照射侧看除了最里面信息层之外的每层信息层包括下保护层、相变记录层、上保护层、反射层和透光层，在从激光照射侧看除了最里面层之外的每层信息层中的上保护层和透光层由包含Sn氧化物的材料构成，并且在从激光照射侧看除了最里面层之外的每层信息层中的上保护层的厚度为2nm至15nm。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||