用于访问一个或多个电子电路的系统和方法

摘要

提供一种并行测试结构(PTA)，便于同时访问多个电子电路(即并行)，用于优化电路的测试、调试或可编程配置。PTA包括并行测试总线(PTB)、连接到PTB的测试控制器、和连接到PTB的多个可寻址PTB控制器，其中每个可寻址PTB控制器可耦合到被访问的相应电子电路上。测试控制器被构成以在PTB上向相应的可寻址PTB控制器发送至少一个控制信号、以启动由相应的可寻址PTB控制器进行对与其耦合的电子电路的并行扫描访问。此外，每个可寻址PTB控制器被构成以采用扫描协议、以便根据由测试控制器在PTB上发送的控制信号访问可与其耦合的相应电子电路，并响应于访问相应电子电路而在PTB上向第一控制器发送结果扫描数据。

主权项

1. 一种用于访问一个或多个电子电路(UUT1-UUTn)的系统(500)，用于测试、调试或可编程地配置所述电子电路，包括：测试总线(504)；连接到所述测试总线的主测试控制器(502)；和连接到所述测试总线的多个可寻址局部测试控制器(508.1-508.N)，每个局部测试控制器可连接到被访问的相应电子电路上，其中，所述测试总线是多点测试访问总线，其中，所述主测试控制器被配置成经由所述测试总线将测试数据、期望数据和掩码数据发送给相应局部测试控制器，以经由所述相应局部测试控制器并行地访问所述电子电路，以及其中，每个局部测试控制器被配置成：将所述测试数据施加到可连接到其上的所述相应电子电路；响应于所述测试数据的所述施加，接收由所述相应电子电路生成的结果数据；在所述期望数据的一部分是不确定的的情况下，使用所述掩码数据来掩盖所述期望数据的所述不确定的部分；以及利用所述期望数据来验证所述结果数据。