发明名称 电子元件之检验维护系统以及方法
摘要 一种电子元件(component)之检验维护系统以及方法,系搭载于资源管理系统,且该资源管理系统中系储存有包括电子元件标识资料及其有效性判断资料,以及针对有效性判断资料为否定结果之无效电子元件之替代元件资料等电子元件管理资料,其系透过撷取线路设计档案资料中所包含之电子元件识别资料,据以自该电子元件管理资料中查询对应之电子元件的有效性判断资料,藉以检验该电子元件是否有效,并针对检验结果为无效电子元件,自该电子元件管理资料中提取出相对应的替代元件资料以执行修正维护作业,并同时输出显示上述讯息以供线路设计人员参考,藉而提高线路设计作业的工作效率,亦利于管理执行电子元件之资源维护作业。
申请公布号 TW200813676 申请公布日期 2008.03.16
申请号 TW095133212 申请日期 2006.09.08
申请人 英业达股份有限公司 发明人 梁惠贞
分类号 G05B19/4093(2006.01);G06F17/50(2006.01) 主分类号 G05B19/4093(2006.01)
代理机构 代理人 陈昭诚
主权项
地址 台北市士林区后港街66号