用于测量描绘位置之方法与装置、及用于描绘影像之方法与装置

摘要

揭示一种描绘位置测量方法,其中当描绘面及调变进入光与在描绘面上形成描绘点之曝光头彼此相对移动,且在该相对移动期间,曝光头顺次于描绘面上形成描绘点以描绘影像时,使用于描绘面中形成之侦测隙缝测量描绘点之位置。在此方法中,于该相对移动期间,测量曝光头与侦测隙缝之间的相对位置偏差,及基于测量之位置偏差,修正使用侦测隙缝所测量之描绘点之位置。