发明名称 |
集成电路测试插座的测试接口的自动清洁机构及清洁方法 |
摘要 |
一种集成(IC)电路测试插座的测试接口的自动清洁机构及清洁方法。该自动清洁机构是应用于一IC测试机系统,其包含一清洁组件夹持装置及一清洁组件。夹持装置可移动地设置于IC测试插座的上方,清洁组件可分离地依附于该夹持装置的底面,清洁组件的形状与IC测试插座的用于承载IC的收容部的形状相匹配;通过该夹持装置相对IC测试插座的移动,依附于其底面的清洁组件可达成对IC测试插座的测试接口的自动清洁功能。该清洁组件由一本体与一清洁片组成。本发明的自动清洁方法,可达成对测试插座的测试接口的自动、及时、高效的清洁,测试插座不需从生产在线移出即可进行清洁的动作,可减少生产线停顿时间,同时也可延长测试接口的使用寿命。 |
申请公布号 |
CN101249630A |
申请公布日期 |
2008.08.27 |
申请号 |
CN200810086376.3 |
申请日期 |
2008.03.25 |
申请人 |
日月光半导体制造股份有限公司 |
发明人 |
胡朝雄;卢忻杰 |
分类号 |
B24B27/033(2006.01) |
主分类号 |
B24B27/033(2006.01) |
代理机构 |
上海翼胜专利商标事务所 |
代理人 |
翟羽 |
主权项 |
1.一种集成电路测试插座的测试接口的自动清洁机构,其应用于一集成电路测试机系统,其特征在于:所述自动清洁机构包含一清洁组件夹持装置及一清洁组件,所述清洁组件夹持装置,可移动地设置于集成电路测试插座的上方,所述夹持装置具有一面向集成电路测试插座的底面;清洁组件可分离地依附于所述夹持装置的底面,所述清洁组件的形状与集成电路测试插座的用于承载集成电路的收容部的形状相匹配;通过所述夹持装置相对集成电路测试插座的移动,依附于其底面的所述清洁组件可达成对集成电路测试插座的测试接口的自动清洁功能。 |
地址 |
中国台湾高雄楠梓加工出口区经三路26号 |