发明名称 软件关联缺陷检测方法
摘要 软件关联缺陷检测方法,其特征在于按下列步骤进行测试:(1)根据需要初始化缺陷描述数组;(2)以概率0.01随机重新打开一个已剔除的缺陷j;(3)从测试用例库中随机选一个测试用例进行测试;(4)如果发现新的缺陷,则剔除该缺陷,并标记该缺陷为已知;(5)如果达到测试停止条件,譬如找到所有缺陷或测试时间已满等,则停止,转第(6)步;否则转第(2)步;(6)停止。采用本发明的测试方法,不仅可以有效检测和剔除关联缺陷,而且提高了缺陷的检测率。
申请公布号 CN100414512C 申请公布日期 2008.08.27
申请号 CN200410009531.3 申请日期 2004.09.09
申请人 北京航空航天大学 发明人 蔡开元;景涛;白成刚;胡德斌
分类号 G06F11/36(2006.01) 主分类号 G06F11/36(2006.01)
代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 代理人 刘秀娟;成金玉
主权项 1. 软件关联缺陷检测方法,其特征在于按下列步骤进行测试:(1)根据需要初始化缺陷描述数组defects,若要测试全部缺陷,令defects[i][0]=1表示缺陷i是打开的,deects[i][1]=0表示缺陷i未知,i=1,2,......,n,n为软件中的缺陷数;(2)以概率0.01随机重新打开一个已剔除的缺陷j,即如果缺陷j已知,用defects[j][1]=1表示,则以0.01的概率在所有已剔除缺陷中将缺陷j重新打开,用defects[j][0]=1表示;(3)从测试用例库中随机选一个测试用例进行测试;(4)如果发现缺陷,假定该缺陷编号为j,则剔除该缺陷j,用defects[j][0]=0表示,标记缺陷j为已知,用defects[j][1]=1表示;(5)如果达到测试停止条件,则停止,转步骤(6);否则转步骤(2);(6)停止测试。
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