| 发明名称 | 用于检测和分离出杂质的装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种用于检测和分离出材料流中的杂质的装置，具有用于辐照材料流的辐射机构(3)和至少一个用于检测材料流中的被照射的杂质的传感器装置(4)。设有可旋转的多棱镜(10)用于分行扫描材料流，利用该多棱镜，辐射机构(3)的辐射能被偏转向材料流并且由材料流反射的辐射可被偏转向传感器装置(4)。辐射机构(3)和传感器装置(4)关于光学照射轴(L)是同轴前后布置的。辐射机构(3)主要包括辐射源(8)、用于沿光学照射轴(L)使辐射准直射向多棱镜(10)的凹面反射镜(11)、和后反射体(12)，通过该后反射体，辐射的后侧部分能被引导向凹面反射镜(11)。 | ||
| 申请公布号 | CN101250772A | 申请公布日期 | 2008.08.27 |
| 申请号 | CN200810007284.1 | 申请日期 | 2008.02.22 |
| 申请人 | 鲁道夫·富克斯 | 发明人 | A·克劳斯 |
| 分类号 | D01G9/00(2006.01);D01G5/00(2006.01);G01N21/89(2006.01) | 主分类号 | D01G9/00(2006.01) |
| 代理机构 | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人 | 胡强;蔡民军 |
| 主权项 | 1.一种用于从纤维材料特别是原棉的材料流中检测并分离出杂质的装置，具有：至少一个用于辐照该材料流的辐射机构(3)和至少一个用于检测该材料流中的被照射的杂质的传感器装置(4)，其中为了分行扫描该材料流，设有可旋转的多棱镜(10)，利用该多棱镜，该辐射机构(3)的辐射能被偏转向该材料流并且由该材料流反射的辐射能被偏转向该传感器装置(4)；分离装置(5)，与该传感器装置(4)有效连接，用于分离出所检测到的杂质，其特征在于，该辐射机构(3)和该传感器装置(4)关于光学照射轴(L)是同轴前后布置的。 | ||
| 地址 | 瑞士维尔 | ||