一种对FLASH内部单元进行测试的方法

摘要

一种对FLASH内部单元进行测试的方法，包括：将FLASH内部单元均匀分为n块，按地址升序依次为B₀、B₁、…、B_n-1，每一个块的大小为m，然后执行下列步骤：1)整片擦除；2)从B₀到B_n-1，对每一块B_i依次进行地址判断、写入模值及判断模值；3)整片擦除；4)从B_n-1到B₀，对每一块B_i依次进行地址判断、写入模值及判断模值；以上各步骤中，如果读到的数据与期望值不一致，则报告并记录相关错误信息。使用本发明的测试方法能有效提高测试的故障覆盖率。

主权项

1. 一种对FLASH内部单元进行测试的方法，在所述方法中，FLASH内部单元被均匀分为n块，按地址升序依次为B0、B1、...、Bn-1，每一个块内各有m个地址单元，每个块内的m个地址单元的编号按地址升序排列，且不同块内的m个地址单元按地址顺序采用相同的编号，其特征在于：所述方法包括如下步骤：1)整片擦除；2)从B0到Bn-1，依次执行以下操作：对Bi的第1个地址单元，读是否为111...111；同时写入数字di1；再读是否为di1，数字di1为x1对y1的模值；对Bi的第2个地址单元，读是否为111...111；同时写入数字di2；再读是否为di2，数字di2为x2对y2的模值；......对Bi的第m个地址单元，读是否为111...111；同时写入数字dim；再读是否为dim，数字dim为xm对ym的模值；3)整片擦除；4)从Bn-1到B0，依次执行以下操作：对Bi的第m个地址单元，读是否为111...111；同时写入数字di1；再读是否为di1，数字di1为x1对y1的模值；对Bi的第m-1个地址单元，读是否为111...111；同时写入数字di2；再读是否为di2，数字di2为x2对y2的模值；......对Bi的第1个地址单元，读是否为111...111；同时写入数字dim；再读是否为dim，数字dim为xm对ym的模值；其中，所述i为0至n-1的整数；所述x1、x2、...、xm以及y1、y2、...、ym均为正整数，且对于同一个取值的i，di1，di2，...，dim各不相同；当i从0依次取值至n-1时，使得所有di1各不相同，所有di2各不相同，...，所有dim 各不相同；以上各步骤中，如果读到的数据与写入的数据不一致，则报告并记录相关错误信息。