发明名称 用于积体电路之薄钨层的氪溅镀
摘要 一种利用电浆溅射制程来沉积在氮化钨(42)上覆钨(44)之双层的方法,其中在钨沉积期间使用氪气做为溅射工作气体。在氮化钨的反应性溅射沉积期间可用氩气做为溅射工作气体。当钨层厚度低于50奈米时,降低钨电阻率的有利效应增强,并且在钨层低于35奈米时更进一步增强。该方法可用来形成闸极堆叠,该闸极堆叠包含在MOS电晶体之矽闸极区域上之闸极氧化层(16)上的多晶矽层(20),其中该氮化钨作为一阻障层。可用来实施本发明的电浆溅射腔室(50)包含氪气(110)、氩气(62)及氮气(90)的气体来源。
申请公布号 TW200926300 申请公布日期 2009.06.16
申请号 TW097130086 申请日期 2008.08.07
申请人 应用材料股份有限公司 发明人 王伟D;干德可塔史林尼维斯;拉弗齐休尔
分类号 H01L21/3205(2006.01);C23C16/00(2006.01) 主分类号 H01L21/3205(2006.01)
代理机构 代理人 蔡坤财;李世章
主权项
地址 美国