| 主权项 |
1.一种移动式CMOS测试装置，包含：一基座，包括一底盘、二分别自该底盘两侧缘向上延伸的固定壁，及一与该底盘连接且位于下方的发光件，其中，该底盘具有一供该发光件之光线透射的透光部；一第一滑动单元，可移动地设置于该基座一侧；一第二滑动单元，可移动地设置于该基座另一侧；一第一目标框，设置在该第一滑动单元上，且包含一第一透射部，及一与该第一透射部相间隔的第一色片部，其中，该第一透射部具有一第一透光板，该第一色片部具有多数片的第一透色片；以及一第二目标框，设置在该第二滑动单元上，且包含一第二透射部，及一与该第二透射部相间隔的第二色片部，其中，该第二透射部具有一第二透光板，该第二色片部具有多数片的第二透色片；利用该第一滑动单元可在该基座上移动，使该第一目标框之第一色片部在一靠近该底盘之第一主测试位置，及一远离该底盘之第一副测试位置间位移，而该第二滑动单元可在该基座上移动也使该第二目标框之第二色片部在一靠近该底盘之第二主测试位置，及一远离该底盘之第二副测试位置间位移。2.依据申请专利范围第1项所述之移动式CMOS测试装置，其中，该第一滑动单元包括一可滑动地穿设该基座之底盘一侧的第一底杆、一套置该第一底杆一端的第一连接件，及一穿置该第一连接件且与该第一底杆相间隔的第一顶杆。3.依据申请专利范围第1或2项所述之移动式CMOS测试装置，其中，该第二滑动单元包括一可滑动地穿设该基座之底盘另一侧的第二底杆、一套置该第二底杆一端的第二连接件，及一穿置该第二连接件且与该第二底杆相间隔的第二顶杆。4.依据申请专利范围第2项所述之移动式CMOS测试装置，其中，该第一连接件概呈片状且具有一供该第一底杆穿置固定的第一连接底部、一供该第一顶杆穿置固定的第一连接顶部，及一位于该第一连接底部与该第一连接顶部之间的第一缺槽，该第一缺槽可供该第二目标框穿伸通过。图式简单说明：图1是一示意图，说明习知CMOS感光测试之态样；图2是一侧视图，说明本新型移动式CMOS测试装置之第一较佳实施例；图3是一立体分解图，辅助说明该第一较佳实施例之结构；图4是一部份立体图，说明该第一较佳实施例之第一滑动单元的态样；图5是一部份立体图，说明该第一较佳实施例之第二滑动单元的态样；图6是一侧视图，说明该第一目标框在第一主测试位置之态样；图7是一侧视图，说明该第一目标框在第一副测试位置之态样；图8是一侧视图，该明该第一目标框与该第二目标框分别在第一主测试位置及第二主测试位置之态样；及图9是一侧视图，说明该第二目标框在第二主测试位置之态样。 |
