| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Ermitteln von Messstellen (21-26) an einem physikalischen Objekt (9). Zunächst werden mehreren Messstellen (21-24) des Objekts (9) in einem grafischen Rechnermodell (20) des Objekts (9) solange ausgewählt, bis genügend Messstellen (21-24) ausgewählt sind, um die Lage des Objekts (9) bezuglich eines Bezugskoordinatensystems zu ermitteln. Danach wird eine weitere Messstelle (25, 26) des Objekts (9) im grafischen Rechnermodell (20) ausgewählt und automatische überprüft, ob durch die weitere Messstelle (25, 26) die Lage des Objekts (9) bezuglich des Bezugskoordinatensystem genauer bestimmbar ist. Ist dies der Fall, dann wird die weitere Messstelle (25, 26) berücksichtigt. Schließlich werden solange weitere Messstellen (25, 26) ausgewählt, bis die Lage des Objekts (9) besser als mit einer vorgegebenen Toleranz bestimmbar ist.</p> |
