发明名称 |
相对于参考测量和绘制表面的系统和方法 |
摘要 |
一种用于测量一个表面相对于一个基准参考的位移,以及用于绘制该表面相对于该基准参考的位移的系统和方法。激光扫描仪生成关于一个远端表面相对于参考点的空间定向的测量值的点群数据,以限定所述表面的三维图像。存储关于该基准参考相对于该表面的空间定向的参考数据。处理装置处理所述点群数据和所述基准参考数据,以确定所述表面关于所述基准参考的相对位移。一种系统,包括:数据处理装置,用于获得在一个与基准参考一致的坐标系中限定一个表面的点群数据,以及生成关于在所述点群中每个点和所述基准参考中相关的点之间的位移的位移数据;比较装置,用于将位移数据与指定阈值进行比较;以及显示装置,用于图形方式显示比较结果。 |
申请公布号 |
CN101248330A |
申请公布日期 |
2008.08.20 |
申请号 |
CN200580051388.7 |
申请日期 |
2005.10.20 |
申请人 |
斯甘拉伊斯股份有限公司 |
发明人 |
M·P·斯图尔特;D·利克蒂;J·弗兰克 |
分类号 |
G01B11/30(2006.01);G01B21/30(2006.01);B02C17/00(2006.01) |
主分类号 |
G01B11/30(2006.01) |
代理机构 |
北京北翔知识产权代理有限公司 |
代理人 |
谢静;杨勇 |
主权项 |
1.一种用于测量一个表面相对于基准参考的位移的系统,其包括:扫描装置,用于生成关于远端表面相对于参考点的空间定向的测量值的点群数据,以限定所述表面的三维图像;存储装置,用于存储关于基准参考相对于所述表面的空间定向的基准参考数据;以及处理装置,用于处理所述点群数据和所述基准参考数据,以确定所述表面相对于所述基准参考的相对位移。 |
地址 |
澳大利亚西澳洲本特利 |