发明名称 使用半导体工艺制造压印模板的方法及所制得的压印模板
摘要 依据本发明的使用半导体工艺制造压印模板的方法,包括以光刻及蚀刻方法将基板上具有厚度在1000埃至8000埃的氧化物层蚀刻,以形成具有多个柱状凹洞的图形,而形成具有多个柱状凹洞的压印模板。可进一步于柱状凹洞中填入材料层,及移除部分的氧化物层,以形成具有多个柱状突出物的压印模板。或可仅以硅基板取代基板及基板上的氧化物层。依据本发明的压印模板具有可大量制造、制造快速、及成本低的优点,并且适合用以制造光子晶体制造用的压印模板。
申请公布号 CN101246307A 申请公布日期 2008.08.20
申请号 CN200710005945.2 申请日期 2007.02.15
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 周珮玉;廖俊雄
分类号 G03F7/00(2006.01);B81C1/00(2006.01) 主分类号 G03F7/00(2006.01)
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 陶凤波
主权项 1. 一种使用半导体工艺制造压印模板的方法,包括:提供基板;于该基板上形成厚度在1000埃至8000埃的范围内的氧化物层;于该氧化物层上形成光刻胶层;将该光刻胶层以光刻及蚀刻工艺形成具有多个接触洞形开口的图形;经由该多个开口蚀刻该氧化物层,以形成多个柱状凹洞;及移除该光刻胶层,而形成具有多个柱状凹洞的压印模板。
地址 中国台湾新竹科学工业园区